常見的半導體材料有硅、鍺、砷化鎵等，硅是各種半導體材料應用中最具有影響力的一種。半導體在集成電路、消費電子、通信系統(tǒng)、光伏發(fā)電、照明、大功率電源轉換等領域都有應用，如二極管就是采用半導體制作的器件。

最近又收到了客戶郵寄的半導體硅材料，是暗黑藍色的，很脆，是典型的半導體，化學性質非常穩(wěn)定。厚度在0.75mm左右，尺寸很小，寬度在1.5-2.6mm?？蛻粢鬁y量其厚度，使用超聲波測厚儀測量半導體材料厚度是否達標且均勻，是控制產(chǎn)品質量主要的手段和方法。

04測量分析和結果

首先測量時要考慮到被測工件的厚度、材料和幾何形狀等多種因素，選擇適合測量的儀器和探頭，這是檢測過程中至關重要的第一步。

我們考慮到這個樣件尺寸較小，應選擇測量面小的探頭。我們使用宇時先鋒超聲波測厚儀PM5 Gen2選用筆式延遲線探頭進行測量，其尖窄的延遲塊端部可以將探頭耦合到尺寸非常小的測量面上，回波清晰，測量值穩(wěn)定準確。

無論從科技或是經(jīng)濟發(fā)展的角度來看，半導體的重要性都是非常巨大的。大部分的電子產(chǎn)品，如計算機、移動電話或是數(shù)字錄音機當中的核心單元都和半導體有著極為密切的關聯(lián)。

半導體材料被廣泛應用到各個領域中，如果您想了解有關使用超聲波技術測量半導體材料厚度的方法，或在測量其它材料厚度中遇到難題，可以聯(lián)系我們郵寄樣件測試，我們竭誠為您服務。