一、超聲波探傷儀探頭的選擇

鑄件檢測采用A 型脈沖反射式超聲波檢測儀進行檢測(模擬式儀器或數(shù)字式儀器)，一般情況下以縱波直探頭檢測為主,對于有特殊要求的鑄件，應輔以縱波雙晶直探頭或橫波斜探頭進行檢測。

鑄件晶粒比較粗大，衰減嚴重,宜選用較低的頻率，一般為0.5MHz ~2.5MHz。對于厚度不大又經(jīng)過熱處理的鑄件，選用2.0MHz ~2.5MHz，對于厚度較大和未經(jīng)過熱處理的鑄件，選用0.5MHz~2.0MHz。

縱波直探頭的直徑一般為中10mm ~ 30mm，橫波斜探頭的折射角常為45°、60°、70°等。

二、對比試塊的選擇

鑄件檢測常用圖所示的系列平底孔對比試塊。試塊材質(zhì)應與被檢鑄件相似,不允許存在φ2平底孔當量及以上缺陷。試塊平底孔直徑d分別為3、4、6三種。平底孔聲程L為25、50、75、100、150、200六種。該試塊用于測試距離一波幅曲線和校準檢測靈敏度（縱波直探頭)，也可采用與上述平底孔試塊相當?shù)臋M孔試塊。

三、檢測表面與超聲波耦合劑的選擇

鑄件表面粗糙，耦合條件差，檢測前應對其表面進行打磨清理，為達到良好的耦合效果，被檢表面粗糙度應達到Ra≤25um，經(jīng)機加工的被檢表面粗糙度應達到Ra≤12.5um。對于特殊的檢測技術(shù)，需要更好的表面粗糙度,如Ra≤6. 3 um。

鑄件檢測時，常用粘度較大的耦合劑，如漿糊、黃油、甘油、水玻璃等?；虿捎?a href="http://www.shuov.cn/product/showproduct.php?id=91" target="_self" title="宇時先鋒超聲波探頭——軟保護膜探頭">帶軟保護膜的探頭。采用液浸法進行檢測也是解決耦合條件差的方法之一。

四、透聲性測試(可探性測試)

鑄件晶粒較粗，組織不致密，對聲波吸收和散射嚴重，形成透聲性差，對檢測結(jié)果影響較大，一般檢測前要進行透聲性測試或可探性測試。

鑄件透聲性可用縱波直探頭進行測試。測試時將探頭對準工件底面,測出底面回波B1與B2的AdB差，為了減小測試誤差，一般測三點后取平均值。測得的△dB差愈大,說明透聲性愈差。

GB/T7233 - 2009標準規(guī)定:

材料的超聲可探性，可通過比較參考反射體回波高度（通常是第一次底波）和噪聲信號來評價。評價應選擇鑄件具有代表性的區(qū)域，該區(qū)域必須是上下面平行的最終表面和最大厚度。

反射體回波高度至少高出噪聲信號6dB。

如果在檢測的最大厚度探測到的最小平底孔或相當?shù)臋M孔直徑的回波高度不大于噪聲信號6dB，超聲可探性下降。在小于6dB的信噪比下，探測到的平底孔或橫孔直徑應在檢測報告中說明，并經(jīng)供需雙方同意。

檢測靈敏度根據(jù)一組系列平底孔試塊測定的距離—波幅曲線進行校準，并根據(jù)對鑄件的質(zhì)量驗收要求進行確定。

五、檢測面及掃查方式確定

鑄件檢測時,為保證各方向缺陷的檢出,應盡可能從相對兩端面進行檢測,鑄件較厚時(或透聲性能較差時),應增加從相對端面進行檢測。

掃查方式采用100%掃查,相鄰兩次掃查的重疊區(qū)域應不小于晶片直徑的15%。掃查時,探頭的移動速度應≤150mm/s。

六、 鑄件質(zhì)量評定及標準特點

鑄件質(zhì)量級別評定按相應標準的規(guī)定執(zhí)行。

1.缺陷位置分內(nèi)、外層,外層質(zhì)量要求比內(nèi)層嚴格。

2.缺陷分片狀和非片狀,片狀缺陷要求比非片狀缺陷嚴格。

（鑄件厚度＜90mm時，分為三層，每層各占1/3，兩個表面部分為外層，中間為內(nèi)層；當鑄件厚度＞90mm時，兩個外表面向內(nèi)延伸30mm為外層，中間部分為內(nèi)層）