7.1 帶A掃描顯示的超聲儀器設置

7.1.1 帶A掃描顯示的超聲儀器與直接接觸單晶片探頭的組合

7.1.1.1 顯示起點與初始脈沖同步,時基線應是線性的。整個厚度范圍均在入掃描上顯示。

7.1.1.2 對延時控制進行微調(diào),減去保護膜中的傳播時間。校準試塊至少提供覆蓋所測厚度范圍的兩個厚度,以校準整個測量范圍的精度。

7.1.1.3 探頭放在已知厚度的試塊上,調(diào)整儀器控制(聲速校準、范圍、掃描或聲速)直到回波顯示適當?shù)暮穸茸x數(shù)。

7.1.1.4在讀數(shù)值小于該厚度值的試塊上檢查和調(diào)整,以提高系統(tǒng)的精度。必要時在階梯試塊的中間厚度上再進行驗證。

7.1.2 帶A掃描顯示的超聲探傷儀與延時塊單晶片探頭組合

7.1.2.1 使用延時塊單晶片探頭時,儀器應能校正通過延時塊的時間,以便延時結(jié)束時能對應零厚度儀器應具備"延時”控制,或電子自動調(diào)零功能。

7.1.2.2 若可預先調(diào)整到某給定材料的聲速,則可通過調(diào)整延時控制直到儀器顯示正確厚度值的方法標定:若無法設定聲速,也可采用如下方法進行儀器設置。

a)至少使用兩個試塊。一個試塊厚度不小于測量范圍的最大值,另一個試塊厚度不大于測量范圍的最小值。為方便起見,厚度宜是整數(shù),使厚度之差也是整數(shù)值。

b)探頭依次放在兩個試塊上,分別調(diào)整聲速校準功能,取得兩者厚度讀數(shù)差。調(diào)整直至厚度讀數(shù)差等于實際厚度差,材料厚度范圍調(diào)整正確。

7.1.2.3 另一種延時塊探頭的調(diào)整方法是7.1.2.2規(guī)定方法的變化。按步驟進行一系列調(diào)整后,使用延時控制在薄試塊上提供正確讀數(shù)和“范圍”控制功能在厚試塊上校準讀數(shù)。有時適度的過校準是有用的。當兩個讀數(shù)正確時,儀器調(diào)整完畢。

7.1.3 帶A掃描顯示的超聲探傷儀與雙晶探頭的組合

7.1.3.1     7.1.2.2規(guī)定的方法也適用于雙晶探頭測量大于3mm厚度范圍的儀器設置。由于聲速傳播的聲程是V字型,因此對于小于3mm厚度測量存在固有的誤差。傳播時間與厚度不再成線性關系,測量的厚度越小，這種非線性越嚴重。如下圖。

7.1.3.2在厚度接近且非常薄的有限范圍內(nèi)測量時,可在適當?shù)谋≡噳K上采用7.1.2.2規(guī)定的方法校準儀器,得出在有限范圍內(nèi)近似正確的校準曲線。此時測量較厚產(chǎn)品會產(chǎn)生誤差。

7.1.3.3 若測量厚度范圍較大,則按 7.1.2.2規(guī)定的方法校準。使用兩塊試塊,一塊為最大厚度,另一塊的厚度為最大厚度和最小厚度的中間值。此時進行薄端測量會產(chǎn)生誤差。

7.1.4 厚部件高精度測厚的儀器設置

7.1.4.1 基本設置按7.1.1規(guī)定的方法進行。校準試塊應精確校準整個掃描距離的厚度值,即滿屏大約10 mm或25 mme

7.1.4.2 基本設置完成后,調(diào)整掃描延時。例如被測產(chǎn)品標稱厚度是50mm~60mm,校準試塊是10 mm,厚度范圍也是50mm~60 mm。調(diào)整延時控制使校準試塊的第五次背面反射等于50 mm,與A掃描顯示上參考零點重合,第六次背面回波應位于校準掃描線的右側(cè)。

7.1.4.3 設置結(jié)束后可在已知近似總厚度的試塊上進行驗證。

7.1.4.4在未知試塊上取得的讀數(shù)應加上被延時在熒光屏以外的值。例如,如果讀數(shù)是4mm,則總厚度為 54 mm。

7.1.5 高衰減材料測厚的儀器設置

高衰減材料可采用方法4(穿透法)進行測厚。發(fā)射脈沖指示可用于表示零時間脈沖,將其設置為零刻度,并將接收到的脈沖信號位置設置與刻度上的已知厚度對齊。

7.2 數(shù)字直讀式超聲測厚儀的設置

7.2.1 儀器應有“聲速設定’(或“材料選擇”或“聲速校正’)和“零位校正”功能。

7.2.2 通常采用與被測產(chǎn)品材料相同的試塊,一塊厚度不小于待測厚度最大值,另一塊不大于待測厚度的最小值。

7.2.3 探頭置于較厚試塊上,調(diào)整儀器的“聲速設定”使

7.2.4 探頭置于較薄試塊上,調(diào)整儀器的“零位校正”使測厚儀顯示讀數(shù)

7.2.5 反復進行7.2.3和7.2.4,直到厚度量程的高低兩端都得到正確讀數(shù)為止。

7.2.6若已知材料聲速,則可預先設定聲速值,然后測量儀器附帶的薄鋼試塊,調(diào)節(jié)“零位校正 使儀器顯示出不同材料換算后的顯示值。

7.3 帶有A掃描的超聲測厚儀的設置

直接顯示厚度的入掃描測厚儀的設置見7.1和7.2

7.4 特殊檢測條件下測厚時儀器的設置

特殊檢測條件下測厚時儀器的設置見附錄E。

7.5 儀器設置的核查

1）發(fā)生以下情況時應進行儀器設置的核查:

2）中所有測量工作完成時;

3）工作期間定期檢查,每天至少一次;

4）在探頭或探頭線更換時;

5）被測材料類型改變時;

6）材料或儀器溫度顯著變化時;

7）儀器設置改變時;

8）按其他質(zhì)量文件規(guī)定的核查時間