在鍛件檢測中，不同性質(zhì)的缺陷回波是不同的，實(shí)際檢測時(shí)，可根據(jù)超聲波探傷儀顯示屏上的缺陷回波情況來分析缺陷的性質(zhì)和類型。

1.單個(gè)缺陷回波

鍛件檢測中，超聲波探傷儀顯示屏上單獨(dú)出現(xiàn)的缺陷回波稱為單個(gè)缺陷回波。一般單個(gè)缺陷是指與鄰近缺陷間距大于50 mm、回波高不小于2 mm的缺陷。如鍛件中單個(gè)的夾層、裂紋等。檢測中遇到單個(gè)缺陷時(shí)，要測定缺陷的位置和大小，當(dāng)缺陷較小時(shí)，用當(dāng)量法定量，當(dāng)缺陷較大時(shí),用6 dB法測定其邊界和面積范圍。

2.分散缺陷回波

鍛件檢測時(shí)，工件中的缺陷較多且較分散，缺陷彼此間距較大，這種缺陷回波稱為分散缺陷回波。一般在邊長為50 mm的立方體內(nèi)少于5個(gè)，直徑不小于2mm，如分散性的夾層。分散缺陷回波一般不太大，因此常用當(dāng)量法定量，同時(shí)還要測定分散缺陷的位置。

3.密集缺陷回波

鍛件檢測中，示波屏上同時(shí)顯示的缺陷回波很多，缺陷之間的間隔很小，甚至連成一片，這種缺陷回波稱為密集缺陷回波。

密集缺陷的劃分，根據(jù)不同的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)有不完全相同的定義。

(1）以缺陷的間距劃分，規(guī)定相鄰缺陷間的間距小于某一值時(shí)為密集缺陷。

(2）以單位長度時(shí)基線內(nèi)顯示的缺陷回波數(shù)量劃分，規(guī)定在相當(dāng)于工件厚度值的基線內(nèi)，當(dāng)探頭不動(dòng)或稍作移動(dòng)時(shí)，一定數(shù)量的缺陷回波連續(xù)或斷續(xù)出現(xiàn)時(shí)為密集缺陷。

(3）以單位面積中的缺陷回波劃分，規(guī)定在一定檢測面積下，探出的缺陷回波數(shù)量超過

某一值時(shí)定為密集缺陷。

(4）以單位體積內(nèi)缺陷回波數(shù)量劃分，規(guī)定在一定體積內(nèi)缺陷回波數(shù)量多于規(guī)定值時(shí)定為密集缺陷。

實(shí)際檢測中，以單位體積內(nèi)缺陷回波數(shù)量劃分較多。一般規(guī)定在邊長50 mm 的立方體內(nèi),數(shù)量不少于5個(gè)，當(dāng)量直徑不小于2mm的缺陷為密集缺陷。

密集缺陷可能是疏松、非金屬夾雜物、白點(diǎn)或成群的裂紋等。

鍛件內(nèi)不允許有白點(diǎn)缺陷存在，這種缺陷的危險(xiǎn)性很大。通常白點(diǎn)的分布范圍較大，且基本集中于鍛件的中心部位，它的回波清晰、尖銳，成群的白點(diǎn)有時(shí)會(huì)使底波嚴(yán)重下降或完全消失。這些特點(diǎn)是判斷鍛件中白點(diǎn)的主要依據(jù)，如圖所示。

4．游動(dòng)回波

在圓柱形軸類鍛件檢測過程中，當(dāng)探頭沿著軸的外圓移動(dòng)時(shí)，示波屏上的缺陷波會(huì)隨著該缺陷檢測聲程的變化而游動(dòng)，這種游動(dòng)的動(dòng)態(tài)波形稱為游動(dòng)回波。

游動(dòng)回波的產(chǎn)生是由于不同波束射至缺陷產(chǎn)生反射引起的。波束軸線射至缺陷時(shí),缺陷聲程小,回波高。左右移動(dòng)探頭，擴(kuò)散波束射至缺陷時(shí)，缺陷聲程大，回波低。這樣同一缺陷回波的位置和高度隨探頭移動(dòng)發(fā)生游動(dòng)，如圖所示。

不同的檢測靈敏度，同一缺陷回波的游動(dòng)情況不同。一般可根據(jù)檢測靈敏度和回波的游動(dòng)距離來鑒別游動(dòng)回波。一般規(guī)定游動(dòng)范圍達(dá)25 mm時(shí)，才算游動(dòng)回波。

根據(jù)缺陷游動(dòng)回波包絡(luò)線的形狀,可粗略地判別缺陷的形狀。

5．底面回波

鍛件檢測中,有時(shí)還可根據(jù)底波變化情況來判別鍛件中的缺陷情況。

當(dāng)缺陷回波很高，并有多次重復(fù)回波，而底波嚴(yán)重下降甚至消失時(shí)，說明鍛件中存在平行于檢測面的大面積缺陷。

當(dāng)缺陷回波和底波都很低甚至消失時(shí)，說明鍛件中存在大面積且傾斜的缺陷或在檢測面附近有大缺陷。

當(dāng)示波屏上出現(xiàn)密集的互相彼連的缺陷回波，底波明顯下降或消失時(shí),說明鍛件中存在密集性缺陷。