1.在超聲波測(cè)厚中，通常涂層(多層)的存在引起測(cè)量時(shí)聲程增加,即增加了反射回波的聲時(shí)。通過(guò)涂層測(cè)量時(shí)，由于涂層和被測(cè)產(chǎn)品的聲速不同,導(dǎo)致測(cè)量誤差。如下圖

A——測(cè)厚探頭

B——涂鍍層

C——涂層厚度

D——超聲波傳輸時(shí)間

E——被測(cè)物體

2. 以下情況時(shí)涂層材料的存在影響測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性:與被測(cè)產(chǎn)品材料的聲學(xué)性能相似;

與被測(cè)產(chǎn)品的厚度相比具有較明顯的厚度。

3.表面有涂層且與基體結(jié)合良好,宜使用多次回波法通過(guò)涂層進(jìn)行測(cè)厚。

4.聲反射不良或高衰減只能實(shí)現(xiàn)單次回波測(cè)量時(shí),宜已知涂層厚度,并從單次回波讀數(shù)中去除。

5. 若上述條件都不能滿足,則在條件允許的情況下去除涂層。

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*本文摘自GB/T11344-2021《無(wú)損檢測(cè) 超聲測(cè)厚》國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)