1．標(biāo)準(zhǔn)試塊的基本要求

標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)均勻，內(nèi)部雜質(zhì)少，無(wú)影響使用的缺陷。加工容易，不易變形和銹蝕，具有良好的聲學(xué)性能。試塊的平行度、垂直度、粗糙度和尺寸精度都應(yīng)經(jīng)過(guò)嚴(yán)格檢驗(yàn)并符合一定的要求。

標(biāo)準(zhǔn)試塊要用平爐鎮(zhèn)靜鋼或電爐軟鋼制作,如20號(hào)碳鋼。

標(biāo)準(zhǔn)試塊檢測(cè)面粗糙度一般不低于R₀=1.6 um，尺寸公差士0.05 mm。

試塊上的平底孔應(yīng)檢驗(yàn)其直徑、孔底表面粗糙度、平面度等。常用下述檢查方法:先用無(wú)腐蝕性溶劑清洗孔并干燥，然后用注射器將硅橡膠液注入孔內(nèi)，抽出注射器，插入大頭針，待橡膠凝固后借助大頭針將橡膠模型取出，在光學(xué)投影儀上檢查孔底粗糙度和平整程度。

2．常用標(biāo)準(zhǔn)試塊

(1）IIW試塊IIW是國(guó)際焊接學(xué)會(huì)的英文縮寫(xiě)。該試塊是荷蘭代表首先提出來(lái)的，故稱(chēng)荷蘭試塊。該試塊形狀似船形，因此又叫船形試塊。IIW試塊結(jié)構(gòu)尺寸如圖4—28所示。

IIW試塊材質(zhì)相當(dāng)于我國(guó)20號(hào)鋼，正火處理，晶粒度7～8級(jí)。

IIW試塊的主要用途如下:

1）調(diào)整縱波檢測(cè)范圍和掃描速度（時(shí)基線(xiàn)比例):利用試塊上25 mm和 100 mm尺寸。

2）校驗(yàn)超聲波探傷儀器的水平線(xiàn)性、垂直線(xiàn)性和動(dòng)態(tài)范圍:利用試塊上25 mm或100 mm尺寸。

3）測(cè)定超聲波直探頭和超聲波探傷儀器組合的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力:利用試塊上85、91和100 mm尺寸。

4）測(cè)定超聲波直探頭和超聲波探傷儀器組合后的最大穿透能力:利用φ50 mm有機(jī)玻璃塊底面的多次反射波。

5）測(cè)定超聲波直探頭與超聲波探傷儀器組合的盲區(qū):利用試塊上φ50 mm有機(jī)玻璃圓弧面至側(cè)面間距5 mm和10 mm。

6）測(cè)定超聲波斜探頭的入射點(diǎn):用R100圓弧面。

7）測(cè)定超聲波斜探頭的折射角:折射角在35°76°范圍內(nèi)用φ50 mm孔測(cè)，折射角在74～80°范圍內(nèi)用1.5 mm圓孔測(cè)。

8）測(cè)定超聲波斜探頭和超聲波探傷儀器組合的靈敏度余量:利用試塊R100或.5 mm。

9）調(diào)整橫波檢測(cè)范圍和掃描速度:由于縱波聲程91 mm相當(dāng)于橫波聲程50 mm，因此可以利用試塊上9l mm來(lái)調(diào)整橫波的檢測(cè)范圍和掃描速度。例如橫波1∶1，先用直探頭對(duì)準(zhǔn)91底面，使底波B₁、B₂分別對(duì)準(zhǔn)50、100，然后換上橫波探頭并對(duì)準(zhǔn)R100圓弧面，找到最高回波,并調(diào)至100即可。

10）測(cè)定斜探頭聲束軸線(xiàn)的偏離:利用試塊的直角棱邊測(cè)。

IIW試塊用途較廣，但也有一些不足，對(duì)此一些國(guó)家做了小的修改作為本國(guó)的標(biāo)準(zhǔn)試塊。如德國(guó)和日本在R100圓心處兩側(cè)加開(kāi)寬為0.5 mm，深為2 mm 的溝槽，借以獲得R100圓弧面的多次反射，這就克服了IIW試塊調(diào)整橫波檢測(cè)圍和掃描速度不便的缺點(diǎn)。