當(dāng)縱波從第一種介質(zhì)以第一臨界角附近的角度(±30°以內(nèi)）入射于第二種介質(zhì)時(shí),在第二種介質(zhì)中不但存在表面縱波，而且還存在斜射橫波，如圖所示。通常把橫波的波前稱為頭波,把沿介質(zhì)表面下一定距離處在橫波和表面縱波之間傳播的峰值波稱為縱向頭波或爬波。

爬波的產(chǎn)生

在縱波速度為5850 m/s的細(xì)晶珠光體鋼平面試塊上,用頻率為1.8 MHz、晶片直徑為18 mm、有機(jī)玻璃斜楔角度為27.6°的兩個(gè)探頭分別作為發(fā)射和接收探頭，測(cè)得試塊水平面的聲場(chǎng)指向性如下圖所示;用直徑為5 mm直探頭在圓柱體側(cè)壁測(cè)得在入射平面內(nèi)的聲場(chǎng)指向性,如下圖所示。

a）水平表面上聲場(chǎng)指向性       b）入射平面聲場(chǎng)指向性

爬波受工件表面刻痕、不平整、凹陷、液滴等的干擾較小，有利于檢測(cè)表面下的缺陷。如鑄件、堆焊層等的表面下裂紋以及螺紋根部的裂紋等，且理論和實(shí)驗(yàn)研究表明:將爬波探頭的入射角α選為第一臨界角，可通過(guò)選擇f·D值，來(lái)改變對(duì)表面附近缺陷的敏感程度，這里f為聲波頻率，D為探頭晶片直徑。這些都是它優(yōu)于瑞利波之處。爬波速度與縱波相近，在圓弧面上約為縱波的0.96。因橫波吸收能量，爬波離開(kāi)探頭后衰減很快，回波聲壓約與距離的4次方成反比，檢測(cè)距離較小，通常只有幾十毫米，在很多情況下采用雙探頭一收一發(fā)相對(duì)放置較為有利。